光ファイバの長手方向に生じている歪みを長距離にわたって連続的に計測するもので，NTTが開発したオリジナル技術。本技術は，ブリルアン散乱光＊の強さの周波数分布が歪みの大きさに応じてシフトすることを利用したもの（図）。本技術では，計測対象に設置されたセンシング用の光ファイバに計測用の光パルスを入射し，光ファイバ中で発生した散乱光を受信するまでの時間から計測位置を，またその強さの周波数分布を解析する（強さが最大となる周波数を求める）ことによってそこでの歪みを求めている。

＊ ブリルアン散乱光：光ファイバに光を入射すると，そのエネルギーの一部によってガラスの密度の揺らぎが発生する。ブリルアン散乱光はこれによって生じる散乱光。